1. Defect structure in nanomaterials /
المؤلف: Jenő Gubicza
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Nanostructured materials-- Defects
رده :
TA418
.
9
.
N35
G83
2012
2. X-ray line profile analysis in materials science
المؤلف: Gubicza, Jeno
المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع: ، Radiography, Industrial,Testing ، Materials,Industrial applications ، X-rays
رده :
TA
417
.
25
.
G83
2014